浪声 ScopeX PILOT镀层测厚仪 用于电子元器件

镀层测厚仪的优点介绍：

1. 测量速度快 ，  

2. 精度高精度，可达到1-2% 。

3. 稳定性高。      

4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法。

5、覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

6、X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。

镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。

ScopeX PILOT台式镀层测厚仪采用下照式设计，搭载先进的Muti-FP算法软件和微光聚集技术，以及高敏变焦测距装置，对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品，都能够快速、精准、无损检测，可轻松应对镀层领域的表面处理的过程控制、产品质量检验等环节中的检测和筛检难题，被广泛应用于珠宝首饰、电镀行业、汽车行业、五金卫浴、航空航天、电子半导体等多种领域。

使用优势

可选配微焦X射线装置

测试各类极微小的样品，即使检测面积微小的样品也可轻松、精准检测。

多准直器/滤光片

多滤光片和多准直器可选或软件自动切换组合，使得仪器的多功能性得以显著提升，以灵活应对不同尺寸的零件。

下照式设计

从下往上测量，无需额外对焦，可轻松实现对镀层样品的高效测量。

无损检测

X射线荧光是无损分析过程，不留任何痕迹，即使是对敏感性材料，其测量也是非常安全的。

变焦装置

可对各种异形凹槽样品进行检测，凹槽深度测量范围可达0~30 mm。

高精度手调X-Y平台

搭载高精度手调X-Y平台，精度可达25μm，使微区测量更便捷。

应用场景

紧固件

五金小零件

珠宝首饰

汽车零部件

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途