BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及 Zeta 电位分析仪

BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及 Zeta 电位分析仪

——背向 + 90°散射粒度 + Zeta 电位三合一型

仪 器 简 介

ABOUT INSTRUEMENT

BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的顶级光学检测系统。该系统中集成了背向 +90°动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS和静态光散射技术 SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta 电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。

指标与性能

Index＆performance

粒径测试

原理：动态光散射技术

粒径范围：0.3 nm – 15 μm

样品量：3 μL - 1 mL

检测角度：173°+90°+12°

分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta电位测试

原理：相位分析光散射技术

检测角度：12°

Zeta范围：无实际限制

电泳迁移率范围：> ±20 μ.cm/V.s

电导率范围：0 - 260 mS/cm

Zeta测试粒径范围：2 nm – 110 μm

分子量测试

分子量范围：342 Da – 2 x 107 Da

微流变测试

频率范围：0.2 – 1.3 x 107 rad/s

测试能力：均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量

粘度和折光率测试

粘度范围：0.01 cp – 100 cp

折光率范围：1.3-1.6

趋势测试

模式：时间和温度

系统参数

温控范围：-15° C - 110° C+/- 0.1°C

冷凝控制：干燥空气或者氮气

标准激光光源：50 mW 高性能固体激光器， 671 nm

相关器：最快25 ns采样，最多 4000 通道，1011 动态线性范围

检测器：APD （高性能雪崩光电二极管）

光强控制：0.0001% - 100%，手动或自动

软件

中文和英文

符合21CFR Part 11

原理图

Optical system

仪器检测

Instruments Testing

检测参数

颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布

颗粒体系的 Zeta 电位及其分布

分子量

分布系数 PD.I

扩散系数 D

流体力学直径 D H

颗粒间相互作用力因子 k D

溶液粘度

检测技术

动态光散射

电泳光散射

静态光散射

企业官网：www.bettersize.com

邮政编码：118009

电话总机：0415-6193800