Semilab SSM 汞探针CV测试设备-测汞仪测汞

仪器简介：

应用： 
◆ 硅外延层的CV测试； 
◆ 半导体器件及化合物半导体（GaAs/SiC）的CV/IV测试。

技术参数：

SSM公司的汞探针CV测试设备是半导体器件、化合物半导体（GaAs/SiC）行业的标准设备，行业占有率超过９０％。其多项专利技术保证了测试的高精确性及重复性。

主要特点：

◆ 高精度和准确性的参数测试(Qeff, Qot, Fbd, Vbd, K...)； 
◆ 在半导体和化合物半导体（GaAs/SiC）行业超过９０％的市场占有率； 
◆ 高重复性（<1%）； 
◆ 非破坏性； 
◆ 双重的filer保护系统确保Hg的使用安全。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途