单波长色散X射线荧光光谱仪DUBHE-1610超低硫含量分析

单波长色散X射线荧光光谱仪

 Monochromatic Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer（MWD XRF）

特点：

• 灵敏：高选择性检测硫元素，检测限达到0.4PPM，是针对硫元素最灵敏的X射线荧光光谱仪

• 稳定：XFS（X-Ray Fixed System）专利技术，光路工厂精密调谐后，不再产生位移或偏差，最大限度的保证了仪器的长期稳定性

• 快速：单个样品准备时间小于10秒钟；单个样品分析时间最长300秒；开机10分钟内即可测试样品

• 经济：单个样品消耗小于4元/样品，无气体、溶剂等消耗

• 方便：使用ESP：Easy Sample Prepare装置，使得样品杯与膜成型变得简单；长时间使用无硬件更换；无需经常校正标准曲线

原理：

X射线光管出射谱是由连续谱线和特征谱线组成，初级全聚焦双曲面弯晶仅衍射X射线光管出射谱中的高强度的特征X射线，从而入射到样品的X射线具有极好的单色性，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线（线光谱）和单色入射线的瑞利散射和康普顿散射以外，不存在连续线散射背景。单色入射Cr:Kα线激发样品中的硫Kα线，硫Kα线进一步被大面积全聚焦双曲面弯晶收集，聚焦到探测器中检出，从而实现对样品中硫元素高选择性和高灵敏度检测。

最低检出限LLD：0.4ppm

测量范围：0.4ppm--5%

测量时间：60秒--300秒

重复性：Sn-1≤0.2ppm（2ppm），0.5ppm（10ppm），2.5ppm（50ppm）

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