单波长XRF在铝电解质元素与分子比测定的应用

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铝电解质分子比的分析是电解铝行业的难点，需要准确定量电解质中O、F、Na、Mg、Al、Si、K、Ca、Fe、Li等元素含量，对XRF轻元素灵敏度与稳定性有极大的挑战。单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪（HS XRF）采用双曲面弯晶单色化聚焦激发技术，大幅提升轻元素检测灵敏度，结合快速基本参数法（Fast FP）精确计算元素间吸收-增强效应等，开创性改变铝电解质分析难点，为电解铝行业提供高效可行的分析方法。