展品预览
超构透镜光学检测系统
MetronLens™
一款面向超构表面、超构透镜等新型微纳器件的光学检测系统
✔ 3D光场分布+相位分布+远场分布
✔ 400 - 1700 nm宽波段色/像差矫正
✔ 光场扫描 ≤ 1 μm(min)/ ≤ 3 μm(typ.)
✔ 相位精度 ≤ 40 mrad
显微角分辨光谱仪
ARMS
一款面向结构色、光子晶体、超构表面等微纳光子结构的显微角分辨光谱测量系统
✔ 400 - 1650 nm超宽波段范围
✔ 角度分辨率 ＜ 1.9 mrad @VIS,＜ 20 mrad @NIR
✔ 采样区域 ≥ 10 μm
✔ 透/反射、吸收、荧光等9种测量模式
更多看点
相约NO.14
复享光学展台
欢迎垂询 400-001-5686