塞贝克系数/电阻测量系统

塞贝克系数/电阻测量系统ZEM

                                                ——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻  

产品介绍：

塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点，塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。

产品特点：

♦  拥有温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器；

♦  测量是由计算机控制的，并且能够在指定的温度下执行测量，并允许自动测量消除背底电动势；

♦  欧姆接触自动检测功能（V-I图）；

♦  可以用适配器来测量薄膜；

♦  可定制高阻型。 

工作原理

基本参数

型号：            ZEM-3M8    |   ZEM-3M10   

温度范围：       50-800℃   |   50-1000℃

样品大小：方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL

加热方式：红外加热   

气氛：高纯氦气（99.999%） 

样品温差：MAX.50℃ 

测量方式：电脑全自动测量

设备结构

样品腔结构

应用方向：

对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。

可选功能：

1. 薄膜测量选件

2.低温选件（温度范围-100℃到200℃）

3.高阻选件（zei高到10MΩ）

附：

热电材料/器件测试设备

参数配置：

测试数据

烧结P型Si₈₀Ge₂₀塞贝克系数及电阻率测量结果

发表文章

1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 

2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 

3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 

4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 

5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.

用户单位

清华大学

中国科学技术大学

上海交通大学

复旦大学

南方科技大学

武汉理工大学

中国科学院上海硅酸盐研究所

中国科学院大连化学物理研究所

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途