聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d

聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d

日本ADVANCE RIKO公司塞贝克系数与电阻测量系统ZEM系列在全球销售量超过300台，广获全球科研及工业用户的赞誉，成为热电材料领域应用广泛的测试设备。2019年，在此前的成功基础上，ADVANCE RIKO公司推出了专门用于评价聚合物厚度方向上热电性能的全新设备ZEM-d。

与之前ZEM系列产品（ZEM-3/ZEM-5）不同，新型号ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。此外，ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致，其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。

ZEM-d测量原理

电阻率测量原理

塞贝克系数测量原理

ZEM-d技术参数

测量参数        塞贝克系数，电阻率

温度范围        高200℃（样品表面）

样品尺寸        截面：Φ20mm（Max），长度：0.01-20mm

测量氛围        空气或惰性气体

软件界面

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途