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UHV PAN式低温扫描探针显微镜系统

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Quantum Design China
参考报价: ¥面议 型号: PAN type SPM
品牌: RHK 产地: 美国
关注度: 1127 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?
UHV PAN式低温扫描探针显微镜系统
 
 

 

Pan式低温扫描探针显微镜析系统是由美国RHK Technology公司制造的,主要特点包括:
- PAN STM/AFM扫描头体积小(2.96”X1.55”)
- 集成了样品X-Y-Z方向的大范围移动(5mmX5mmX10mm)
- 工作温度包括了低温300mK、RT、VT和HT多种范围
- 内置弹簧和涡流阻尼减震系统,原位针尖与样品更换
- 兼容多种Flow式或Bath式低温恒温器与磁体
- 与RHKzei新全数字R9控制器一同使用
适用于拓扑绝缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中。
 
 

 

主要技术参数:

- 工作模式:STM与非接触式AFM
- 温度范围:<300mK; RT; VT; HT
- X-Y-Z位移范围:5mmX5mmX10mm


- 扫描范围:5umX5um (RT)
- 样品尺寸:10mmX10mm
- 扫描头尺寸:40mmX70mm
 

 

结构紧凑,体积小:
内置减震系统、可水平或垂直放置
 
Pan式低温扫描探针显微镜结构其紧凑,核心部分尺寸在~40X70mm左右;内置有弹簧和涡流阻尼减震系统;根据用户的要求,可以提供水平放置配置和垂直放置配置两种;初次之外,它兼容常用的低温恒温器和磁体,并提供相应的集成方案。

 


 

原位样品与探针更换

操做简单、快速;性能可靠
 
在低温和超高真空环境中,样品和针尖的原位更换一直是使用者非常关心的问题。为此,RHK公司为Pan式低温扫描探针显微镜开放了一套性能可靠、操作简单快速的原位样品与针尖更换装置,并提供了多个样品与针尖的放置室。

Pan式低温扫描探针显微镜中使用的样品架灵活多样,可充分满足各种实验要求,如原位加热、样品剥离、样品轰击等等;同时,它还兼容其他的商业化扫描探针显微镜中所配备的样品架。
 

 

兼容各种磁体和恒温器


为充分满足科学家的要求,RHK与磁体和恒温器制造商紧密合作,开发了低温扫描探针显微镜整机系统和独立扫描头模块系统,根据用户的特殊要求提供了一整套的解决方案。
 
RHK公司将上zei先进的全数字扫描探针显微镜控制器R9集成到Pan式扫描探针显微镜中,集中研发力量,推出了噪音低的R9扫描控制系统和IVP-R9前置放大器。

 



 

应用案例:

 
 

Si(111)表面7X7重构,4K

 

Bi2Se3表面形貌,4K

 

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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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