扫描电镜测样服务

北京培科创新技术有限公司现推出测样服务：

新一代日本电子台式扫描电镜JCM-7000

仪器实拍图1

仪器实拍图2

1.×10～100000，直接放大倍率；24~202168，显示放大倍率。

2. 0～30光学放大。

3.仪器搭配背散射电子探测器，二次电子探测器，EDS能谱分析仪。

4.元素测试范围B（5）-U（92）

5.能谱性能：分辨率不低于129eV(MnKα)，有效面积：30mm2。

另附元素激发能量表（临界）

1．金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物等材料的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析。

2．各种材料微区化学成分的定性和定量检测；金属材料牌号的确定。

3．机械零部件、电子元器件失效分析。

4．粉末、微粒纳米样品形态和粒度的测定。

5．复合材料界面特性的研究。

6．表面微量污染物、异物及其来源分析。

7．表面镀层成分、镀层厚度与结构分析。

1.不导电样品需做喷金处理，不额外提供制样服务。

2.样品尺寸不大于50mm(H)x80mm(D)

3.请提供样品必要的基础信息：A.您需要观测什么？B.样品的基础信息（成分、构成、须知事项等）。C.您期望的观测条件（放大倍率、真空度、图像特征等）。

附喷金效果比对：

1. 可提供“低真空”（20Pa）、“电荷减轻模式”（60Pa）条件下的样品测试。

2. 可提供元素分析报告（点、线、面）。

1000x，未喷金的名片，放电明显，无法观测有效信息。 

2200x，低真空模式，部分区域放电明显，成像质量较喷金样品差区别明显 

1000X，减轻电荷模式，放电效果进一步减轻，可观测部分表面形貌

10000x，喷金后的名片，成像质量高，细节信息丰富。

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