SID4-HR 高分辨率 波前传感器/波前分析仪

SID4-HR  波前传感器 / 波前分析仪

【SID4-HR 简介】

随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-HR为要求苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨率（400 x 300）和高动态范围（500 µm PV）。 它的大相机靶面和极高的波前灵敏度使其非常适合直接测量大发散角的光束，而无需添加任何中继镜或准直光学系统。

【关于Phasics】

Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。

一、 SID4-HR 波前传感器主要特点

l 400 x 300超高相位取样分辨率

l11.8 x 8.8 mm² 大分析靶面

l可接收高至NA=0.8高数值孔径发散光束

                                 非准直光入射                                                                                                      消色差

二、SID4-HR 波前传感器产品应用

光束参数测量：波前像差测量+光束分析仪

基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 SID4-HR 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M²、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。 Phasics SID4-HR 波前传感器适用于从紫外到远红外的任何连续或脉冲激光，包括宽带可调光源、拍瓦激光等。

应用领域：激光测控、光学与系统计量、定量相位成像、材料检验

三、SID4-HR 波前传感器测量案例

                 光斑优化                                                       波前像差3D图                                               SLM 光束整形                                         

四、SID4-HR 波前传感器主要规格

五、与夏克-哈特曼波前传感器对比

六、更多参数选型