一、产品介绍

Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度，打破了1纳米的检测限瓶颈。专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计，ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可最大程度提高各种元素分析应用的分析量。能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。
 ARL QUANT´ X荧光能谱仪是一个完整的配置包，配置顶级的硬件，先进的分析软件，基于数百个XRF成功应用分析案例和几十年的实践经验，为现场应用方法开发和技术支持提供了强大的支撑。

二、应用领域

1．地球科学（岩心、岩石、沉淀物、微体化石、年轮等多元素分布成像、行扫描与相序分析。）
2. 司法鉴定、法医及痕量分析（对衣物上的弹孔进行射击残留物GSR分析）
3. 艺术与考古(对文物进行颜料、色料的成分分析，修复文物)
4. 质量控制与故障分析仪（电子和电子部件元素分析，ROHS分析）
5. 发动机部件、电机/润滑油（识别电机/润滑油中的发动机磨损产物）
6. 生命科学（检查树木横断面/叶子/树根年轮）
7. 材料科学（钢材腐蚀检验）
8. 环境科学(土壤重金属、污水污泥重金属分析、空气和城市废物)
9. 过滤器上的薄膜（空气滤膜）

三、产品特点

1. 有如下分析优势:
1.1 快速分析 F到U之间的元素
1.2 灵敏度从 <1 ppm -100%
1.3 多元素的测量时间10-60秒
1.4 多达8种的设置条件同时选择，应用于各种样品的多元素分析
1.5 通过 CCD 照相机显示样品影像
1.6 可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小
1.7 独有的电制冷Si(Li)检测器技术和数字脉冲处理器技术
1.8 Wintrace 多元化的 XRF 应用软件，多个报告输出选项
1.9 高级无标样 厚度和涂层分析
1.10 专利的UniQuant 无标样分析技术
1.11 机械持久性，可保证长期的无故障使用，占地面积小，机动性好
1.12 可以为客户定制应用并在线升级， 易于安装维护
2. 探测器内部的卓越-独特技术
作为一个有着超过40年经验的X射线探测器制造商，本公司深入了解并定义了探测器性能的关键参数。经历了4代探测器的技术创新，硅锂Si(Li)探测器成为ARL QUANT´ X 的心脏 ，提供了高灵敏度，速度和可靠性。
2.1 更低的晶体温度提供了更佳的分辨率
2.2 更厚的晶体可获得更佳的探测性能
2.3 大的晶体面积可获得更佳的检测下限
3. 功能强大、易于使用的 WinTrace软件
3.1 无标和半无标分析
3.2 基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法
3.3 多层厚度及成分
3.4 不限元素、不限数量的标样
3.5 利用自动化操作实现多个激发条件

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途