普析 RoHS/WEEE 指令元素快速分析 X射线散射仪XRF6贵金属分析仪

 相干散射与光干涉现象相互作用的结果可产生x射线光谱仪衍射。x射线光谱仪衍射图与晶格排列等密切相关，可被用于研究物质结构。入射x射线光子与靶元素的内层电子碰撞，如果光子能量保持不变而只是改变了出射方向，这时的散射作用为相千散射，从能谱图上看，相干散射峰对应于入射光子能量，相干散射由于受物质表面形状等影响较小，常被用来进行形态校正，以在一定程度上补偿形态、粒度等变化对分析结果的影响。

 先进多光束可调系统；

.  RoHS/WEEE 指令元素快速分析； 

.  内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群； 

.  内置各类标准样品曲线数据库。

.  高分辨率 SDD 硅漂移探测器； 

.  快速定性分析； 

.  完善的辐射安全防护； 

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途