XRF 镀层测厚仪

日立用于测量镀层厚度和成分的台式 XRF 分析仪系列旨在应对当今电镀车间和电子元件制造商的挑战。每台仪器都包含强大的技术，可提供准确和精确的结果，坚固耐用，可以应对生产或实验室环境中的持续使用。

无论您的挑战是测量各种形状和尺寸、应对异常大的基材、测量超薄镀层的微小特征，还是仅仅是您必须在一天内完成的分析量，日立镀层 XRF 分析仪都能应对这些挑战，帮助您可以减少浪费、减少返工并确保离开您工厂的组件具有高质量。随着镀层变得越来越复杂，部件越来越小，我们的产品系列旨在应对未来的挑战，为您的投资提供永不过时的保障。

FT110A 是一款台式 XRF 镀层测厚仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合严苛标准。

FT110A

• 正比计数器系统

• 元素范围：钛 - 铀

• 样品舱设计：开闭式或开槽式

• XY 轴样品台选择： 开闭式固定台、开闭式程控台、开槽式固定台、开槽式程控台

• 最大样品尺寸：500 x 400 x 150 毫米

• 最大数量准直器：4

• 滤光片：初级 1，二级（可选）1

• 可选最小准直器：0.05 毫米

• X-ray Station 软件

FT110A台式 XRF 镀层测厚仪由日立分析仪器（上海）有限公司 为您提供，如您想了解更多关于FT110A台式 XRF 镀层测厚仪报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途。