QCM-D 耗散型石英晶体分析仪 X1 FCU Pro

创新点：

与上一代产品相比主机和流动控制系统上有了升级， 主机 1）基于专利的QCM-D技术，具有倍频功能，适用于液体样品和气体样品分析 2）样品池快拆式设计，无需任何工具，无需拆卸螺丝即可更换芯片，芯片上方压力可控，确保测试稳定性和重复性 3）结合常规芯片、高频芯片和叉指传感器芯片，可精确检测声波在石英本体与表面的传播变化，提高测试的可靠性。使用高频芯片，可提高2个数量级的测量灵敏度和分辨率。同时高频芯片面积更小，可节省样品的使用量。专有的支撑框架设计可提高芯片的稳定性和操作的方便性。 流动控制系统 1）增加了进样位数，5流路液体处理，防止试剂之间交叉污染以及手动切换样品时的误操作。 2）增加在线自动脱气装置，可以防止进样时液体气泡干扰 3）软件控制6通阀切换进样，可定量进样，最小定量体积：50 μL 4）可自动清洗流路

产品名称：QCM-D耗散型石英晶体分析仪

产品型号：AWS X1 

X1系列耗散型石英晶体分析仪基于专利的QCM-D技术，可精确测量石英芯片表面质量和结构变化，提供实时的表面相互作用信息，如吸脱附过程、分子相互作用、蛋白质构象变化等。

QCM-D技术基于声波在石英芯片本体和表面传播的性质变化，精确测量芯片表面吸附膜质量和结构变化。 当芯片表面发生吸脱附反应时，表面波的频率和振幅将发生变化。

当吸脱附反应发生在芯片表面时，表面波的频率和振幅将发生变化。当吸附膜为刚性膜时，频率变化正比于质量变化，根据Sauerbrey方程可计算出吸附膜质量。

吸附膜为柔性膜时，通过测量频率和耗散可获得膜的构象变化。通过倍频测量频率和耗散可拟合得到具体的粘弹性信息。

AWS X1耗散型石英晶体分析仪在倍频下同时监控频率和耗散变化，可以给出吸附膜的质量、粘度、弹性模量、粘性模量和厚度等信息。结合常规QCM芯片、高频QCM芯片和叉指传感器芯片，可精确检测声波在石英本体与表面的传播变化，提高测试的可靠性。

AWS X1系统可兼容标准QCM芯片、高频QCM芯片和叉指传感器芯片

标准QCM芯片：基频5MHZ，10MHZ

高频QCM芯片：基频50MHZ，100MHZ，150MHZ

叉指传感器芯片：基频120MHZ

AWS-HFF高频QCM芯片与常规QCM-AWS芯片相比品质因子更高，芯片更薄。使用高频芯片，可提高2个数量级的测量灵敏度和分辨率。同时高频芯片面积更小，可节省样品的使用量。专有的支撑框架设计可提高芯片的稳定性和操作的方便性。

样品池采用Q-Lock专利设计，该设计可控制芯片上方的压力，以保证高频率测试时的稳定性和谐波频率的失真最小。操作简单方便可避免操作误差，无论多少次开关样品池，测试都是重复可信的。

除流动样品池外，AWS还提供敞口池、电化学池以及客户定制样品池来满足不同的测试需求。

流动控制单元内置在线脱气功能，同时集成样品、缓冲试剂与废液处理功能，可自动清洗流路。温度控制单元可对试剂和样品进行控温。软件控制6通阀切换，可定量进样。通过简单直观的AWS Suite®软件和可编程的实验步骤，使仪器操作和测试过程变得简单方便。

AWS Suite®软件可控制配套的电化学工作站和采集电化学数据。通过AWS Suite®一个软件可控制两台仪器，同步采集电化学和QCM信号，完美实现电化学与QCM的联用。

软件具有数据分析功能，无需授权码自由安装，可多电脑任意安装使用。

分析模型：Sauerbrey方程（刚性膜），粘弹性模型（柔性膜），Kanazawa方程（牛顿半无限介质），Martin方程（刚性膜+牛顿半无限介质）

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途