WCT-120PL产品分别采用标准QSSPC方法和光致发光法测量硅片的载流子寿命。 瞬态光电导衰减法（PCD）和荧光方法两种互为补充。操作和使用起来和WCT120一样方便。

wct-120pl系统能力

主要应用：

通过使用QSSPC或短暂的寿命测量和PL测量制造过程监控和优化步骤。

其它功能：

?初始材料（硅片）质量监控

?（硅片）加工过程中的重金属污染晶圆检测

?评价表面钝化和发射极的掺杂剂扩散

?使用隐含的VOC测量来查找生产过程引入的漏电因素

?迭代计算qsspl和QSSPC数据得到衬底掺杂情况

上图是wct-120pl得到的一个校准的荧光寿命曲线与一个校准的QSSPC寿命曲线产生寿命数据的载流子密度对照曲线。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途