CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪

Resmap 273 

在178型的技术基础上，ResMap273是半导体行业首款30毫米桌面四点探针仪。273型扩展了ResMap原来一些产品的性能，实现了太阳能对210毫米大型衬底的要求。外形小巧，坚固耐用，准确性和重复性好。

提供NIST标准片6片!

产品特点：操作简单、快速精确

电阻测量范围：1 mΩ/?? - 5 MΩ/??

典型应用：非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量；选择性发射极扩散片；表面钝化片；交叉指样PN结扩散片；新型电极设计，如电镀铜电阻测量等

美国CDE专利技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件，对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作，可有0.01mm 的分辨率，而非麻烦的硬件调整。

美国CDE专利技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件，对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作，可有0.01mm 的分辨率，而非麻烦的硬件调整。

测试性能指标：

探针材料 WC

探头寿命> 500W次

Resmap168，178，273区别：

四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要较准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。
与四探针法相比，传统的二探针法更方便些，因为它只需要操作两个探针，但是处理二探针法得到的数据却很复杂。如图一，电阻两端有两个探针接触，每个接触点既测量电阻两端的电流值，也测量了电阻两端的电压值。我们希望确定所测量的电阻器的电阻值，总电阻值：
  RT = V/I = 2RW + 2RC + RDUT；

其中RW是导线电阻，RC是接触电阻，RDUT是所要测量的电阻器的电阻，显然用这种方法不能确定RDUT的值。矫正的办法就是使用四点接触法，即四探针法。如图二，电流的路径与图一中相同，但是测量电压使用的是另外两个接触点。尽管电压计测量的电压也包含了导线电压和接触电压，但由于电压计的内阻很大，通过电压计的电流非常小，因此，导线电压与接触电压可以忽略不计，测量的电压值基本上等于电阻器两端的电压值。
四探针法通过采用四探针法取代二探针法，尽管电流所走的路径是一样的，但由于消除掉了寄生压降，使得测量变得精确了。四探针法在Lord Kelvin使用之后，变得十分普及，命名为四探针法。

成功案例-美国CDE四探针测试仪

感谢以下客户购买美国美国CDE四探针测试仪

作为半导体行业四探针测试仪测试标准之一，购买美国CDE 四探针测试仪的单位非常多。

最近购买用户

 科研客户：清华大学,天津大学,浙江大学 中山大学 浙江师范大学 ?复旦大学 北京师范大学 河北大学  。。。。。。

 企业客户：上海超日太阳能 卡姆丹克太阳能 南玻光伏 荣马新能源 山东润峰电力 江苏腾晖电力 晶澳太阳能 海润光伏 常州比太 苏州阿特斯 西安隆基 高佳太阳能 江西旭阳雷迪 无锡尚德 武汉珈伟光伏 苏州中导光电 常州天合   。。。。。。

不能一一列举敬请谅解

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途