诚信认证:
工商注册信息已核实!领域: | 电子/电器/半导体,纳米材料,高分子材料,生物质材料,电池/锂电池,功能材料 | ||
资料类型: | 其他资料 |
资料文件名 | 下载 |
---|---|
Park AFM 成像模式 |
下载此篇资料 |
在保证样品完整性的同时,持续的提供高分辨率与高精度的数据。
真正非接触模式可以保持探针锐利以及样品表面不受到破坏,从而提供更为精确的结果。在真正非接触模式下,压电调制器按照接近于悬臂共振频率的固定频率,使悬臂产生小幅度振动。在针尖接近样品的过程中,针尖与样品之间的范德瓦耳斯力使悬臂振动的振幅与相位也随之一同变化。Park原子力显微镜的Z轴伺服回应系统(已获专利)监测这一变化,将针尖与表面间的距离维持在纳米水平,使样品表面或探针尖端不受损伤。.