Park FX40 纳米科学研发界应运而生的的新型全自动原子力显微镜该产品可以通过多样化的应用程序，不费吹灰之力即可获得最敏锐、最清晰、最高分辨率的扫......
用于故障分析和大型样品研究的领先纳米计量工具作为一款缺陷形貌分析的精密测量仪器，其主要目的是对样品进行缺陷检测。而仪器所提供的数据不能允许任何错误的存在。Par......
Park NX10为您带来最高纳米级分辨率的数据，值得您信赖。它是全球唯一一个真正非接触式原子力显微镜，在延长探针使用寿命的同时，还能良好地保护您的样品不受针尖......
晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确低噪声原子力轮廓仪Park NX-Wafer是业界领先的半导体及相关制造业自动化AFM......
Park NX-Hivac用于故障分析与敏感材料研究的高真空原子力显微镜Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显......
Park NX20 300mm可用于 300mm晶片圆测量和分析的顶级自动化纳米测量工具Park NX20 300mm是业界首个大样品原子力显微镜，支持300m......
Park NX12多功能原子力显微镜平台，满足纳米级测量的需求原子力显微镜（AFM)有纳米级分辨率成像以及电，磁，热和机器性能测量的能力。纳米管扫描系统可用于高......
Park NX10 SICM液体环境中的尖端纳米成像Park NX10 SICM扫描离子电导显微镜(SICM)使用户可以在液体环境对样品进行精确测量。使用SIC......
Increase your productivity with our powerfully versatile atomic force microscope......
持续坚持纳米科技创新进步Park NX7实惠智能的Park NX7—— AFM 研究的理想首选Park NX7灵活智能的研究级AFM，实惠来袭！Park NX7......
Automated Industrial AFM for High-Resolution 3D MetrologyPark Systems推出革命性的XE-3D......
Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measuremen......
The Fully Automated AFM for Accurate Inline Metrology of Hard Disk Head Sliders ......
Park NX-Mask基于AFM的 EUV 掩膜修复及其他性能 Park NX-Mask是一款用于修复高端EUV掩膜的创新型机台。Par......
原子力显微镜样品制备详细流程 本手册共有32页，详细说明了原子力显微镜样品的制备流程。本手册为大家提供免费学习教程，旨在为使用原子力显......
专为超大纳米平板显示器测量而设计的自动化原子力显微镜（AFM）系统随着对大型平板显示器原子力显微镜计量需求的增加，Park NX-TSH 通过利用探针扫描器和龙......
* 应用 - 媒介和基体自动缺陷检查 更高的通量，自动的缺陷检查NX-HDM的自动缺陷检查功能(Park ADR)可加速和改良识别、扫描和分......
Higher Throughput, Automatic Defect Review对于媒介和基体领域的工程师而言，识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工......
Automatic Defect Review for Media and SubstratesHigher Throughput, Automatic Def......
毫无争议的最佳原子力显微镜-自动缺陷检查和表面粗糙度测量 更高的通量，自动的缺陷检查对于媒介和基体领域的工程师而言，识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作......
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