一、概述：

薄膜介质损耗测试仪测试频率上限达到目前国内0高的160MHz。

双扫描技术：测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

双测试要素输入：测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

双数码化调谐：数码化频率调谐，数码化电容调谐。

自动化测量技术：对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

全参数液晶显示：数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

DDS数字直接合成的信号源：确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。

计算机自动修正技术和测试回路0优化：使测试回路，残余电感减至0低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

ZJD-C型介电常数及介质损耗测试仪又称介电常数测试仪、介质损耗测试仪、介质损耗因数测试仪、介质损耗角正切测试仪、高频/工频介电常数测试仪。作为0新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器。

二、主要技术特性：

薄膜介质损耗测试仪Q 值测量范围:2 ～ 1023,量程分档：30、100﹑300﹑1000，自动换档或手动换档

固有误差:≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）

工作误差:≤ 7 ％±满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）

电感测量范围: 4.5nH ～ 140mH

电容直接测量范围: 1 ～ 200pF

主电容调节范围: 18 ～ 220pF

主电容调节准确度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％

信号源频率覆盖范围: 100kHz ～ 160MHz

频率分段（虚拟）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

频率指示误差: 3 × 10 -5 ± 1 个字

三、夹具工作特性

1、平板电容器：

极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm可选

极片间距可调范围：≥15mm

2、夹具插头间距：25mm±0.01mm

3、夹具损耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）

4、测微杆分辨率：0.001mm

四、薄膜介质损耗测试仪配置：

薄膜介质损耗测试仪信息由北京智德创新仪器设备有限公司为您提供，如您想了解更多关于薄膜介质损耗测试仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途