介质损耗因数试验仪

发布时间：2023年03月

介电损耗的形式

电介质在电场作用下，内部通过的电流包括：

〔1〕电容电流：由样品的几何电容充电引起电流〔位移电流〕；

〔2〕吸收电流：由松弛极化引起，是介质在交变电压作用下引起介质损耗的主要来源；

〔3〕漏电电流：由介质电导引起，与自由电荷有关，使介质产生电导损耗。

电介质在电场作用下具体损耗的能量主要包括：

⑴极化损耗：在外电场中各种介质极化的建立引起了电流，此电流与极化松弛等有关，引起的损耗称为极化损耗。

⑵电导损耗：在电场作用下，导电载流子做定向漂移，形成传导电流，电流大小由介质本身性质决定，这局部传导电流以热的形式消耗掉，称之为电导损耗。

⑶电离损耗和构造损耗

介电性能的测量方法

依据所测量的根本原理可分为三大类①电桥法②谐振回路法③阻抗矢量法

电桥法：测量范围：～150MHZ

测量原理：根据电桥平衡时两对边阻抗乘积相等，从而来确定被测电容器或介质材料试样的CX和tanX。

谐振回路法：测量范围：40KHZ～200MHZ

测量原理：依据谐振回路的谐振特性进展测量的。根据谐振时角频率ω与回路的电感、电容之间的特定关系式，求得Cx和tanδX。

阻抗矢量法：测量范围：～200MHZ

测量原理：通过矢量电压一电流的比值的测量来确定复阻抗的，进而获得网络、元件或材料的有关参数。

介电性能测试内容主要包括

⑴绝缘电阻率

⑵相对介电常数

⑶介质损耗角正切

⑷击穿电场强度

绝缘电阻率测试

绝缘电阻率测试通常采用三电极系统，可以分别测出试样的体积电阻率ρv和外表电阻率ρs，测量电路图如以下图所示。

                                        体积电阻率测试线路图

                                 外表电阻测量线路图

平板试样

管状试样

电极材料可用粘贴铝箔、导电橡皮、真空镀铝、胶体石墨等

相对介电常数〔εｒ〕测试

相对介电常数通常是通过测量试样与电极组成的电容、试样厚度和电极尺寸求得。

平板试样  

管状试样

介质损耗角正切〔tanδ)的测定

通过测量试样的等效参数经计算求得，也可在仪器上直接读取。

工频、音频下一般都采用电桥法测量，高电压时采用西林电桥法。

                                         西林电桥法

电桥平衡时

CN→标准电容

C4→可调电容

R4→固定电阻

R3→可调电阻

当频率为几十千赫到几百兆赫范围时，可用集总参数的谐振法进展测量，如下图

介质损耗因数试验仪技术参数：

型号：ZJD-C

信号源：DDS数字合成信号

频率范围：100KHZ-160MHZ

Q分辨率：4位有效数，分辨率0.1

电感测量范围：1nH～140mH,；分辨率0.1           

信号源频率精度： 3×10-5 ±1个字,6位有效数

Q值测量范围： 1～1023自动/手动量程

Q值量程分档： 30、100、300、1000、自动换档或手动换档

信号源频率覆盖比：16000:1            

采样精度：12BIT

Q测量工作误差：＜5%

电感测量误差：＜3%

电容直接测量范围：1pF～2.5uF

调谐电容误差分辨率：±1pF或＜1%

主电容调节范围：17～540pF    

谐振点搜索：自动扫描

自身残余电感扣除功能：有

大电容值直接显示功能：有

介质损耗系数精度：万分之一

介质损耗测试范围：0.0001-1             

介电常数测试范围：0-1000

环境温度：0℃～+40℃

消耗功率：约25W

LCD显示参数：F,L,C,Q,LT,CT,波段等

Q合格预置范围： 5～1000声光提示

电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz

材料测试厚度： 0.1-10mm

夹具插头间距： 25mm±0.01mm

夹具损耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）

测微杆分辨率：0.001mm

准确度：150pF以下±1pF；150pF以上±1%

测试极片：材料测量直径Φ38mm或50mm（二选一），厚度可调 ≥ 15mm

 介质损耗因数试验仪符合标准：

GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；
GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；
ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；
GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法；

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途