飞秒激光剥蚀进样系统分析有机元素及轻元素；快速元素制图

J200采用了一种自动调高传感器，该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化。这一特性使得J200能够保持的激光聚焦，不论高度差异如何，在所有采样点上提供相同的激光通量，并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀。这一创新的传感器特性是由应用光谱公司的科学团队开发的一项Z L技术。

J200的Flex样品室的设计能够容纳直径为4英寸的样品，它使用一组可互换的顶部和底部镶嵌块来调节气流条件（层流和紊流）和微粒冲洗时间。此外，Flex样品室的设计是为等离子体光提供一个佳的视角，从而保证在激光剥蚀过程中进行灵敏的LIBS检测。

根据测量目标(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要对样品室的各个性能指标进行优化，指标包括：冲洗时间、颗粒混合、样品室内的流动特性

激光剥蚀—激光诱导击穿光谱相结合，实现了LIBS与LA-ICP-MS的同时测量，具备多种测量功能：同时测量常量、微量元素及同位素（与ICP-MS联用）；分析有机元素及轻元素；快速元素制图；归一化ICP-MS等离子体发射信号。可用于矿物元素定量分析、锆石U-Pb定年、矿物熔体及流体包裹体分析、微区同位素分析和定年技术研究等地质研究领域。能够同时测定主要元素、微量元素以及同位素，快速绘制元素图。

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