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激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统应用于生物医学、半导体、环境和国防领域

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参考报价: 面议 型号: J200 Tandem LA-LIBS
品牌: Applied Spectra(ASI) 产地: 美国
关注度: 559 信息完整度:
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

Dr.Russo从1982年至今在美国劳伦斯伯克利实验室工作,目前,是该实验室的科学家。Russo博士于2004年创建了ASI公司,将激光剥蚀/光谱技术商业化,应用于生物医学、半导体、环境和国防领域



激光剥蚀—激光诱导击穿光谱相结合,实现了LIBS与LA-ICP-MS的同时测量,具备多种测量功能:同时测量常量、微量元素及同位素(与ICP-MS联用);分析有机元素及轻元素;快速元素制图;归一化ICP-MS等离子体发射信号。可用于矿物元素定量分析、锆石U-Pb定年、矿物熔体及流体包裹体分析、微区同位素分析和定年技术研究等地质研究领域。能够同时测定主要元素、微量元素以及同位素,快速绘制元素图。



J200采用了一种自动调高传感器,该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化。这一特性使得J200能够保持的激光聚焦,不论高度差异如何,在所有采样点上提供相同的激光通量,并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀。这一创新的传感器特性是由应用光谱公司的科学团队开发的一项Z L技术。



J200气体控制系统使用了两个高度、数字化质量流量控制器(MFC)和电子控制阀,用于氩气、氦气及补充气体的输送。

J200拥有先进照明系统和高倍光学变焦(高达60X)功能,清晰呈现样品的表面细节。由于配备了双高分辨率CMOS成像摄像机,J200提供广角视野和高倍成像,以地研究精细区域(见下图)。广角视野视图可以保存,并用于定位不同的样品位置,使用高倍镜研究样品。J200还具有三种独立的照明模式,以提高图像质量和对比度:扩散式LED光源,透射光和同轴反射光,光的强度和颜色可控。



J200有三种不同LIBS检测器可选:(1)带有ICCD摄像机的扫描Czerny Turner分光计;(2) 配备ICCD摄像机的中阶梯光栅摄谱仪;(3)同步六通道CCD分光计。做为独立的LIBS仪器系统,J200可同时配备任意两种检测器:一个在主系统内,另一个在外部模块中。双检测器开辟了新的LIBS检测功能。凭借其强大的多功能性和创新检测器特点,J200 LA-LIBS复合系统作为革命性的化学分析产品超越了其他产品。



J200有三种不同LIBS检测器可选:(1)带有ICCD摄像机的扫描Czerny Turner分光计;(2) 配备ICCD摄像机的中阶梯光栅摄谱仪;(3)同步六通道CCD分光计。做为独立的LIBS仪器系统,J200可同时配备任意两种检测器:一个在主系统内,另一个在外部模块中。双检测器开辟了新的LIBS检测功能。凭借其强大的多功能性和创新检测器特点,J200 LA-LIBS复合系统作为革命性的化学分析产品超越了其他产品。



Axiom LA有一个大窗口,用以显示清晰、详细的样品图像。分析人员可以在样本图像上编写任意的激光采样模式的程序,包括光栅线、曲线、随机点、任意大小的网格和预先编程的图案。即使是具有挑战性(或复杂的)形状的采样区域也可以用图案生成工具突出显示,并且可以地分析元素或同位素含量。



Axiom LA集成了来自应用光谱公司业界的RT100系列LIBS仪器中的强大LIBS数据分析工具。TruLIBS™,是应用光谱公司专有的研究导向数据库,它是从真实的LIBS等离子体中获得,能够快速而准确地识别复杂的LIBS发射峰。特定的搜索标准(波长范围、元素组、等离子体激发状态)可以用来在短时间内缩小搜索范围。TruLIBS™允许用户从Axiom LA软件直接加载实验库LIBS光谱来识别和标记峰值。



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