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杨正红总经理当选全国纳米技术标准化纳米检测分委会委员 (2022年10月9日)

发布时间: 2022-10-14 14:40 来源:仪思奇(北京)科技发展有限公司

全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测技术分技术委员会(SAC/TC279/SC2,以下简称纳米检测分委会)成立大会暨第一届全体委员大会于20220929日在中国计量科学研究院召开,中国科学院院士、国家纳米科学中心主任、全国纳米技术标委会主任委员赵宇亮等领导同志出席会议并讲话。杨正红总经理出席了大会并当选第一届纳米检测分委会委员。

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 纳米检测分委会是国家标委会批准成立的在全国纳标委下从事纳米检测领域全国性标准化工作的技术组织,负责纳米检测运行专业标准化的技术归口工作。

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杨正红总经理自离开大学教学和科研岗位后,从1997年起负责颗粒特性分析仪器的技术支持及销售,自2000年以来,有20余篇颗粒特性分析的论文发表,其著作《物理吸附100问》已经脱销。他先后被聘为瑞士华嘉公司分析仪器部产品专家、销售经理,英国马尔文仪器公司北方区经理, 并同时担任美国康塔仪器公司的中国区经理,北京代表处首席代表。2016年7月,杨正红创建仪思奇(北京)科技发展有限公司,致力于国外最先进颗粒特性仪器分析技术的引入推广和国产化先进仪器装备的自主研发和产业化进程。现为北京粉体技术协会专家委员,中国颗粒学会第七届理事会高级理事,中国化工学会化肥专业委员会第十届委员会专家委员,全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会颗粒分技术委员会委员及ISO/TC24/SC4的注册专家委员。

 


标签:颗粒特性分析仪,粒度分析仪,图像粒度仪,纳米粒度仪
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