三维光学显微镜布鲁克作为行业领导者，在微观和宏观样品快速、非接触式分析方面提供服务。经过多代发展，布鲁克三维显微镜不断创新，以确保在各种应用环境中实现精确三维测量所需的高灵敏度和稳定性。布鲁克系统在性能稳定性方面口碑良好，广泛应用于研究实验室和生产车间的质量控制和研发设计。车间的生产率进行了优化。硬件和软件结合，为用户提供了对顶级光学性能的简化访问，完全超越了同类计量技术。
布鲁克ContourX-1003D光学轮廓仪为非接触式表面计量树立了新的标杆。具有业界领先的用户友好界面，可直观访问广泛的预编程过滤器库，用于精密加工的表面，厚膜和摩擦学应用分析。新的增强功能包括新的5MP摄像头，更新的载物台和新的测量模式，以实现更大的灵活性。
ContourX-2003D光学轮廓仪利用特性、选项和易用性的融合，提供快速、准确、可重复的非接触式3D表面度量。具有无与伦比的Z轴分辨率和精度，在不限制传统共聚焦显微镜和竞争性标准光学轮廓仪的情况下，提供了所有业界公认的优势。该系统在各种视野内以亚纳米级的垂直分辨率跟踪特征，为质量控制和过程监控应用提供与比例无关的结果。Bruker布鲁克ContourX-5003D光学轮廓仪用于3D计量的全自动台式
ContourX-500光学轮廓仪是用于快速，非接触式3D表面度量的世界上zui全面的自动化台式系统。该系统集成了布鲁克专有的倾斜/倾斜光学头，可以完全编程，以在一定角度范围内测量表面特征，同时zui大程度地减少跟踪误差。具有测量功能的ContourX-500具有无与伦比的Z轴分辨率和精度，并在更小的占地面积下提供了布鲁克白光干涉仪（WLI）落地式机型的所有业界公认的优势。利用业界zui先进的用户界面，ContourX-500可以直观地访问广泛的预编程过滤器和分析库。借助其新的USI通用扫描模式，可以轻松地针对zui广泛的复杂应用定制分析器，从精密加工表面和半导体工艺的QA/QC计量学到眼科和MEMS器件的R＆D表征。
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布鲁克专有的头部倾斜/倾斜为生产设置和检查提供了无与伦比的用户灵活性。通过将自动倾斜/倾斜功能与显微镜头中的光路相结合，布鲁克将检测点与视线相结合，而与倾斜无关。这样可以减少操作员的干预，提供zui大的可重复性。此功能与自动登台和物镜相结合，使ContourX-500非常适合“按需测量”的工业需求，而且占地面积小。
轮廓X-500传统的俯仰和滚动舞台设计需要操作员进行调整五个运动轴以保持在线的检查点视线进行测量。头部独特的布鲁克提示/倾斜设计在检查点上保持了视线-不论倾斜度如何-都能优化图像采集和zui快的数据记录时间。轮廓X-500WLI为所有目标提供恒定且zui终的垂直分辨率。无与伦比的价值和分析
ContourX-500具有成千上万的自定义分析功能以及布鲁克简单易用但功能强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面，为实验室和工厂车间的生产率进行了优化。这种独特的硬件和软件组合提供了对高可重复性和高通量计量学测量的简化访问，从而超过了同类计量能力。咨询：18263262536（微信同号）；
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