CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用

CAMTEK  自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用

碳化硅碳化硅晶片是未来一代半导体材料,具有独特的电学性能和优异的热性能。 与硅片和砷化镓晶片相比,碳化硅晶片更适合高温和高功率设备应用程序。
Camtek开发专用的检验和计量解决方案,以及分析工具来解决这一新兴市场。

功能

•处理透明材料区域使用黑暗查克在晶片上
•背光查克的早期阶段的过程
•朋友处理透明的晶片
•eef——边缘控制能力
•自动缺陷分类(ADC)基于收益管理的深度学习
•弓测量
•预测收益率-晶圆缺陷位置精度< 2um

技术

•sts -表面形貌传感器
•背光

产品

EagleT-AP

为先进的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。

EagleT-i

设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个zui快的和zui精确的2 d检查工具在市场上。

咨询：182 6326 2536（微信同号）

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途