Bruker三维光学显微镜(白光干涉仪)

三维光学显微镜

布鲁克作为全qiu三维表面测量与观察业界的ling dao者，提供从微观如MEMS（微机电系统）到宏观如发动机腔体等不同大小样品的快说非接触式分析。如今的三维显微镜已历十代，在原有Wyko®专有技术基础上，不断积累创新，来保证面对各种应用环境时精确三维测量所需的高灵敏度和稳定性；而这一挑战往往是其他测量技术或测量系统难以克服的。

布鲁克三维光学显微系统在业界一直以zui佳服务和支持著称，在性能稳定性上一贯口碑良好。从研究型实验室到生产型车间和半导体无尘间，数以几千计的系统被广泛使用。作为专门为先进质量控制和研发设计的测量仪器，可用于精密加工制造类应用的监控，在汽车、航空航天、高亮度LED、太阳能、半导体和 器械领域，布鲁克总有一款适合您应用和与预算的三维光学显微测量系统。

Bruker布鲁克ContourX-100 3D光学轮廓仪

粗糙度测量的精简而经济的台式

ContourX-100光学轮廓仪以zui佳的价格为准确和可重复的非接触式表面计量树立了新的标杆。小尺寸系统采用流线型封装，可提供无与伦比的2D / 3D高分辨率测量功能，并结合了数十年专有的布鲁克白光干涉测量（WLI）创新技术。具有测量功能的台式系统具有业界zui先进的用户友好界面，可直观访问广泛的预编程过滤器库，并用于精密加工的表面，厚膜和摩擦学应用分析。下一代增强功能包括新的5 MP摄像头，更新的载物台和新的测量模式，以实现更大的灵活性。您不会发现比ContourX-100更有价值的台式设备。

ContourX-100 3D光学轮廓仪

轮廓GT-K

无与伦比的计量

ContourX-100轮廓仪是非接触表面计量，表征和成像领域超过四十年的专有光学创新和行业ling dao者的结晶。该系统利用3D WLI和2D成像技术在一次采集中进行多种分析。 ContourX-100在从0.05％到100％的反射率的所有表面情况下都非常坚固。

轮廓X-100

WLI为所有目标提供恒定且zui终的垂直分辨率。

轮廓X-100

ContourX-100手动平台。

无与伦比的价值和分析

ContourX-100台式机具有成千上万的定制分析功能以及布鲁克简单而强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面，为实验室和工厂车间的生产率进行了优化。硬件和软件相结合，可提供对ding 级高通量光学性能的简化访问，完全超越了同类计量技术。

Bruker布鲁克ContourX-200 3D光学轮廓仪

用于表面纹理计量的灵活台式

ContourX-200光学轮廓仪将先进的特性，可自定义的选项以及易用性 融合，可提供yi 流的快速，准确和可重复的非接触式3D表面度量。具有测量功能的小尺寸系统使用较大的FOV 5 MP数码相机和新型电动XY位移台，可提供毫不妥协的2D / 3D高分辨率测量功能。 ContourX-200还配有业界zui先进的操作和分析软件Vision64®。新型VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简化的功能，可访问广泛的预编程滤镜和分析库，用于精密加工的表面，厚膜，半导体，眼科， 设备，MEMS和摩擦学应用。 ContourX-200具有无与伦比的Z轴分辨率和精度，在不限制传统共聚焦显微镜和竞争性标准光学轮廓仪的情况下，提供了布鲁克专有的白光干涉仪（WLI）技术的所有业界公认的优势。

ContourX-200 3D光学轮廓仪

轮廓GT-K

毫不妥协的yi 流计量

基于ContourX-200光学轮廓仪超过四十年的专有WLI创新，该轮廓仪展现出定量计量所需的低噪声，高速，高精度和高精度结果。通过使用多个目标和集成的特征识别功能，可以在各种视野内以亚纳米级的垂直分辨率跟踪特征，从而为非常不同的行业中的质量控制和过程监控应用提供了与比例无关的结果。 ContourX-200在从0.05％到100％的反射率的所有表面情况下都非常坚固。

轮廓X-200

WLI为所有目标提供恒定且zui终的垂直分辨率。

轮廓X-200

ContourX-200电动载物台。

zui广泛的应用分析能力

利用强大的VisionXpress和Vision64用户界面，ContourX-200提供了数千种定制分析，以提高实验室和工厂车间的生产率。系统新相机提供的更大FOV和新型电动XY工作台提供的灵活性，为各种样品和零件提供了更大的灵活性和更高的通量。硬件和软件相结合，可提供对ding 级光学性能的简化访问，完全超越了同类计量功能。

Bruker布鲁克ContourX-500 3D光学轮廓仪

用于3D计量的全自动台式

ContourX-500光学轮廓仪是用于快速，非接触式3D表面度量的世界上zui全面的自动化台式系统。该系统集成了布鲁克专有的倾斜/倾斜光学头，可以完全编程，以在一定角度范围内测量表面特征，同时zui大程度地减少跟踪误差。具有测量功能的ContourX-500具有无与伦比的Z轴分辨率和精度，并在更小的占地面积下提供了布鲁克白光干涉仪（WLI）落地式机型的所有业界公认的优势。利用业界zui先进的用户界面，ContourX-500可以直观地访问广泛的预编程过滤器和分析库。借助其新的USI通用扫描模式，可以轻松地针对zui广泛的复杂应用定制分析器，从精密加工表面和半导体工艺的QA / QC计量学到眼科和MEMS器件的R＆D表征。

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ContourX-500 3D光学轮廓仪

轮廓GT-K

先进的自动化

布鲁克专有的头部倾斜/倾斜为生产设置和检查提供了无与伦比的用户灵活性。通过将自动倾斜/倾斜功能与显微镜头中的光路相结合，布鲁克将检测点与视线相结合，而与倾斜无关。这样可以减少操作员的干预，提供zui大的可重复性。此功能与自动登台和物镜相结合，使ContourX-500非常适合“按需测量”的工业需求，而且占地面积小。

轮廓X-500

传统的俯仰和滚动舞台设计需要操作员进行调整

五个运动轴以保持在线的检查点

视线进行测量。头部独特的布鲁克提示/倾斜

设计在检查点上保持了视线-

不论倾斜度如何-都能优化图像采集和

zui快的数据记录时间。

轮廓X-500

WLI为所有目标提供恒定且zui终的垂直分辨率。

无与伦比的价值和分析

ContourX-500具有成千上万的自定义分析功能以及布鲁克简单易用但功能强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面，为实验室和工厂车间的生产率进行了优化。这种独特的硬件和软件组合提供了对高可重复性和高通量计量学测量的简化访问，从而超过了同类计量能力。

咨询：182 6326 2536（微信同号）；

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