MicroNano - 3000型多模式扫描探针显微镜
简介
这款机型除了拥有AFM-III型原子力显微镜的全部功能以外，主要增加了磁力显微镜功能。集STM、AFM接触/非接触/侧项力/轻敲模式、MFM于一体。并使用了智能针尖连接专利技术，使各种工作模式之间的转换只需替换相应的针尖架，不必替换整个探头，软件能够自动识别当前针尖类型，并自动切换到相应的工作模式。操作非常方便。
用户还能根据不同的科研要求，选择3μm-100μm不同范围的扫描器，以及高分辨CCD观测系统和高精度样品X-Y移动平台，使操作更加方便、精确。
产品技术指标
扫描模式：STM恒流/恒高模式扫描/ I-V曲线测量/I-Z曲线测量/针尖修饰（脉冲）
AFM接触/非接触/侧向力/轻敲模式形貌/划移扫描，F-Z曲线
磁场力成像
样品尺寸：≤Φ10mm
样品厚度：≤5mm
扫描范围：标准配置6μm×6μm
分辨率：STM（X-Y向0.1nm；Z向0.01nm）
接触模式AFM（X-Y向0.2nm；Z向0.03nm）
轻敲模式AFM( x,y方向0.2 nm，z方向0.1nm)
XYZ控制：双12-bit D/A（相当于20位精度）
数据采样：双12-bit A/D （相当于20位精度）
zei大扫描速率：20000 P/S
扫描角度：0~360°
图像采样点：256×256 / 512×512
马达控制：线动螺纹+自动马达，行程
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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
