Metorex C100型X射线荧光光谱法总硫分析仪基于成熟的元素分析技术(EDXRF)在线检测柴油和汽油中的超低硫含量。成熟的能量色散X射线荧光技术(EDXRF)使得C100型总硫分析仪的检测下限为0.5ppm,检测范围从0到10%。简捷而成熟的测量技术，无需对样品进行气化，无需分光晶体及复杂的机械运动装置，使得用户通过使用最简单而精准的仪器，得到优越的准确度和超低的维护量及操作成本。

分析方法：ASTM-D4294 (能量色散X射线荧光光谱法)

ASTM-D7212 (低硫EDXRF分析法，使用低背景比例计数器)

Metorex C100 X射线荧光光谱法总硫分析仪是世界上最早发明在线X射线荧光光谱法总硫分析仪的制造厂-Metorex公司的第四代产品。C100型X射线荧光光谱法总硫分析仪由控制单元（PES）和分析单元（MHA）两部分组成。样品流经位于分析单元的流通池，样品中的硫原子受到X射线照射发出二次光被探测器所检测，二次光的强度与样品中的硫含量成正比。

在整个分析过程中，被测样品既不会与任何分析部件接触，也不会发生任何转换，因而操作简单，维护量低。同时在分析过程中不需要任何辅助的燃烧气体，因此分析过程更安全，操作成本更低。

应用

石油精炼工业领域：燃油和原油中总硫的测定，或炼油催化剂中杂质和微量金属的测定。

化学工业领域：石化工艺中催化剂的测定，例如测定催化剂中的Co、Mn、Br、V和K等元素。

电镀工业领域：测定电镀槽中的金属元素。

污水处理工业领域：测定污水中的痕量金属，例如Pb、Mo和Cu。

特殊应用探头

Metorex系列专利探头在许多应用场合表现出无与伦比的分析性能，各种针对特殊应用设计的专利探头可以使其性能发挥趋于完美。Metorex的专利探头不仅具有极好的分辨率和极高的信噪比，还具有很长的使用寿命。当一个专用探头和理想的X射线管采样系统完美配合时，就可以实现最低的浓度下限和最高的精度。

早期的EDXRF分析仪，检测器背景噪声是检测轻元素浓度的限制因素。Metorex专利技术的制造的一款新的革命性的探测器，通过检测和拒绝不完全电荷收集，来抑制背景噪声。 这把应用在检测轻元素(硅Si，磷P，硫S，氯Cl，钾K，钙Ca)的灵敏度提高到了一个新水平。

全新高速计数电子装置

C100的脉冲处理电子装置还包含全新的高速正比计数电路，这使得C100在一个相当高的速度下(高达50,000 cps)进行测量，相对于传统的EDXRF仪器来说，其测量结果的精准度得到进一步的提高，高速电子计数器和专用探头的组合为EDXRF测量技术带来新的突破。比如C100测量柴油中硫的标准偏差为0.35 ppm。

技术特点

使用EDXRF技术，C100可以测量从硅(原子数14)到铀(原子数92)之间的任何元素，浓度范围从次ppm水平到%水平。

• 检测限：0.5 ppm

• 长期测量的稳定性，通过内标消除检测器和电子漂移。

• 直接测量法，无需高温转换。  

• 样品池窗口和第二个保护窗保护检测器免受样品污染。  

• 特殊涂层的测量池窗口不易被污染，决定了它可以长时间操作而无需维护

• 配置检漏仪，如果遇到检测窗破裂，可切断安全阀门。  

• 检测源是一个X射线管，意味着切断电源时，将停止辐射。

• 测量池自动清洗/校准  

• 可选加热测量池，可将粘度高达100 cSt的高粘样品加热至80℃。  

• 宽量程测量，测量范围从ppm到%水平

• 测量过程不受样品密度和C/H比变化的影响  

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途