特点：

30 ms的测量速度                                                                   

较宽的波长范围                                                                       

PDL测量精度高                                                                       

PDL模拟输出 

高亮的OLED屏

应用：

PDL与波长测量

DWDM器件特性测试

光纤传感元件特性测试

       采用专利最大最小搜索技术，通用光电公司的PDL测量仪能在30 ms内，同时测量待测器件的偏振相关损耗（PDL），插入损耗（IL）和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同，PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率，确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度。因此可获得最精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围：1260~1650 nm，无需波长校准，比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。带有USB、以太网、GPIB和RS-232接口，用于电脑控制。能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性，尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比，PDL-201具有较快的测量速度，较大的测量动态范围，更明亮的显示屏，以及用于集成的附加模拟输出端口。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途