精工（Seiko）扫描探针显微镜

S-image为多功能型，可在大气及液体环境中实现各种SPM测量功能，操作简单，分辨能力高，皮实耐用。
 
E-SWEEP型为可控环境型，主要特点是：
     扫描在封闭的Chamber中进行，可对测量的环境（高真空、高温、低温、液体、电化学等）进行控制。 
     专业级的真空Chamber，所有的部件都是针对高真空和高低温环境所设计；
 zei高分辨的可控环境SPM，是一款可实现原子级分辨的可控环境SPM；
 适合各种金属、陶瓷及高分子材料在不同温度下的性能表征，温度范围宽且控制稳；
 采用性能优异的磁悬浮分子泵，避免了真空系统对测量的影响，即使启动真空系统，设备也能进行高分辨稳定的测量；
 高真空环境，保护高低温条件下的测量、消除空气对测量的影响、研究物质在高真空环境中的特殊性质；
 双测温头设计，不仅测量样品台温度，而且能测量样品表面温度，彻底解决温度梯度导致的误差；
 独特设计的控温台和扫描器，保证各种温度条件下稳定而高分辨的测量； 

L-trace II为大样品台型，能对6英寸或8英寸的样品直接测量，高度自动化，标配闭环扫描器。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途