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参考报价: | 70000 RMB(人民币) | 型号: | U-050-2000-50 |
品牌: | ORTEC | 产地: | 美国 |
关注度: | 6 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
供应商性质 | 一般经销商 | 产地类别 | 进口 |
仪器种类 | 计量/剂量率仪 |
仪器种类 | 计量/剂量率仪 |
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1 带电粒子的测量与探测器的基本类型
ORTEC带电粒子硅探测器主要有金硅面垒和离子注入两种工艺,其耗尽层厚度从10微米到几个毫米厚不等。而根据其几何形状与是否全耗尽又有诸多类型。选择合适的带电粒子探测器,除应用本身外,在探测器上应从耗尽层厚度、结电容、漏电流、电子噪声、能量分辨率等性能指标上综合权衡。
用于alpha能谱测量的ULTRA和ULTRA-AS探测器采用了表面钝化和离子注入工艺(即PIPS探测器),该工艺的探测器有诸多优点:接触极更薄,更坚固;低噪声,对Alpha能谱分辨率好;使用边缘钝化技术,可以使样品离探测器入射窗小到1毫米。而一般的面垒型探测器最小只能达到2.5毫米。所以该类型探测器的效率要更高;常温使用,探测器窗可擦拭。
Ultra-AS针对Ultra的区别或改进是采用了进一步低本底的材料,以专适于在ORTEC Alpha Suite谱仪。
ULTRA-CAM系列则是针对气溶胶连续监测设计,探测器具有特殊密闭和抗潮性能。
Beta能谱测量的难处在于常温状态下由硅探测器很难获得良好的分辨率。ORTEC提供以下两种解决方案:1,Beta-X Si(Li)一体化探测器(包含探头,冷指前放);2,A和L系列可制冷的厚硅探测器。
带电粒子探测器在核物理实验中的应用有诸多方面,ORTEC在其探测器类型上都有相应的侧重。比如重离子由于其高度电离和短径迹特性,需要探测器在前接触级具有强电场,适用的F系列探测器在前接触级的场强为20,000V/cm。而对带电粒子的时间谱测量,需要用ULTRA系列或能承受超电压的强场局部耗尽探测器。
探测器的种类如下:(详细资料请致电我公司)
ULTRA与ULTRA-AS系列离子注入硅探测器
A系列局部耗尽金硅面垒探测器
B系列全耗尽金硅面垒探测器
C系列环形局部耗尽金硅面垒探测器
D系列平面全耗尽金硅面垒探测器
F系列局部耗尽重离子金硅面垒探测器
L系列锂漂移硅(室温)探测器
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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途