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奥谱天成（厦门）光电有限公司
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | ATGX310 |
| 品牌： | 奥谱天成 | 产地： | 福建 |
| 关注度： | 760 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 |
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ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪
产品概述
光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
工作原理
光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它利用波长范围最宽为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要薄膜有一定程度的透射，ATGX310就能根据反射回来的干涉光谱拟合计算出薄膜的厚度，最大测量范围可以达到10nm~250um，可以同时完成多达3层膜厚的测试。核心部件使用ATP3010P高分辨率、高灵敏度光谱仪，多达4096像素元的CCD阵列，为测量结果的准确性提供了可靠的保证。
产品特点
没有更多耗时的基准校正 , 不再浪费更多的时间预热光源, 您仅需将ATGX310连接到计算机的USB端口，4000小时的光源，及内建光谱校准意味着几乎没有维护成本, 更意谓着量测精确.独特的暗箱室结构，可以让您在任何光亮环境中准确测量。
规格及参数
光学系统
标准氘卤组合灯光源
准直照明，积分球接收
接收器：微型光纤光谱仪
波长范围：200-1100
测量范围：0-100%
技术参数
波长准确度 ±0.5nm
波长重复性 ≤0.2nm
光谱带宽 1nm
杂散光 ≤0.05%
透射比准确度 ±0.5%
透射比重复性≤0.5%
应用范围
眼镜、太阳镜、防嗮保护膜
各种光学元件、滤光片等
平面玻璃、塑料制品
手机显示屏、液晶屏
其他透明或半透明材料
实验搭建
基于微型光纤光谱仪（ATP3010P）、R3测量支架（R3）、氘卤灯光源（ATG1020）、光纤准直镜（FIBH-2-UV）以及紫外光纤（FIB-600-UV）搭建的光学镀膜厚度测量系统。
ATGX310规格参数表 | ||||
型号 | ATGX310-VIS | ATGX310-XR | ATGX310-DUV | ATGX310-NIR |
测量波长范围 | 400-850nm | 250-1060nm | 190-1100nm | 900-1700nm |
厚度范围 | 50nm-20um | 10nm-100um | 1nm-100um | 100nm-250um |
厚度分辨率 | 0.1nm | 0.1nm | 0.1nm | 0.1nm |
重复性 | 0.3nm | 0.3nm | 0.3nm | 1.0nm |
入射角 | 90度 | 90度 | 90度 | 90度 |
膜厚层数 | 至多10层 | 至多10层 | 至多10层 | 至多10层 |
样品材料 | 透明或半透明薄膜 | 透明或半透明薄膜 | 透明或半透明薄膜 | 透明或半透明薄膜 |
测量模式 | 反射和透射 | 反射和透射 | 反射和透射 | 反射和透射 |
粗糙膜厚测量 | 可以 | 可以 | 可以 | 可以 |
测量速度 | 最短1ms | 最短1ms | 最短1ms | 最短1ms |
是否能在线 | 能 | 能 | 能 | 能 |
光斑尺寸 | 标准：200um或400um | 标准：200um或400um | 标准：200um或400um | 标准：200um或400um |
定制：100um | 定制：100um | 定制：100um | 定制：100um | |
显微镜搭配 | 可以 | 可以 | 可以 | 可以 |
CCD成像 | 可以 | 可以 | 可以 | 可以 |
扫描选择 | 150mmX300mm | 150mmX300mm | 150mmX300mm | 150mmX300mm |
xy扫描平台 | xy扫描平台 | xy扫描平台 | xy扫描平台 | |
真空兼容 | 是 | 是 | 是 | 是 |
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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
