一镜到底，全量程统一模型！真理光学发布全新旗舰激光粒度仪LT3900

LT3900是真理光学在创始人张福根博士带领下，凝聚团队30余年理论研究、技术创新与实践经验的集大成之作。其核心突破在于实现了从10纳米至4000微米的全量程覆盖，且采用统一的反演模型，用户无需根据样品类型手动选择分析模式，从根本上避免了因模型选择不当导致的数据偏差。

主机原理图

真理光学 LT3900 项目负责人 胡华工程师讲解LT3900产品创新

与国内外同类产品相比，LT3900在多个关键性能上表现卓越：

• 测量精度极高：对40nm至3000μm的可溯源乳胶微球与玻璃微珠进行实测，D50值均在标称不确定度范围内，重复性误差普遍低于0.5%；

• 抗干扰能力强：搭载“弱散射光抗干扰技术”与“斜置测量窗口”，有效克服亚微米颗粒散射光弱、易受杂散光干扰的行业难题；

• 无数据拼接：采用单光源设计，避免多光源系统常见的数据拼接问题，确保结果一致性。

LT3900的研发直面颗粒测试领域的多个长期痛点：

• ACAD（爱里斑反常变化）问题：真理光学团队系统研究并提出了补偿修正方法，确保在0.4~6μm区间内透明颗粒的测量准确性；

• 全反射盲区：通过斜置窗口设计，将传统正入射结构的41°~139°盲区显著缩小，提升对纳米级颗粒散射信息的捕捉能力；

• 多模型混乱：统一模型设计解决了国外竞品在“乳胶球模型”与“通用模型”之间切换导致结果不一致的问题。

真理光学新一代旗舰激光粒度仪LT3900

这些技术突破使得LT3900在新能源（如锂电池正极材料）、电子陶瓷、纳米颜料、生物制药等领域的实际样品测试中表现稳定可靠，能够为客户提供更精准的工艺控制与质量评估依据。