种子大米外观品质检测分析仪系统

万深SC-E型种子大米外观品质检测分析仪系统（米质判定仪）
 
万深SC-E型种子大米外观品质检测分析仪主要用途
万深SC-E型种子大米外观品质检测分析仪可用于野外或实验室对种子大米外观形状的分析。主要是分析评价各类大米（籼米、粳米、籼糯米、粳糯米，特种米、有机米等）、各类种子（玉米、大小麦、谷粒、豆类、瓜果籽、蔬菜种子、小米、芝麻、花种子，以及极细小的拟南芥籽等）。可一次扫描成像就分析出：粒形（直径、长度、宽度、长宽比、面积）、整精米数量、整精米率、大米透明度、垩白率、垩白度、千粒重、碎米率、不完善率（黄粒米、未成熟粒、杂质），包括从外观上自动分析稻谷霉变率。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米相对应，能检测各项指标的重量比和粒数比。还可快速进行稻种等的考种计数。可自动分析玉米在棒截面、粒形上的各参数。广泛适用于种子、品种质量监管和品种选育相关的研究部门，提高工作效率。

万深SC-E型种子大米外观品质检测分析仪性能优点
（1）专有的向导学习，使非专业者快速上手。能准确地自动分割团状粘连的种子图像，自动计数精度≥99%，监视修正<1%，即达100%正确。
（2）适应检测种粒直径0.3～15mm，计数速度为20～300粒/s（具体参见【万深】http://www.wseen.com的[性能PK台]）。
（3）可裁剪掉污染目标区，能根据种子形态、大小差别，自动剔除杂质等，并导出为EXCEL表以便形成统计分布图。
（4）可任意组合的批操作向导，实现一键自动完成计数。清晰、可直观验证的计数自动标记，可自由选择标记数字/符号，及标记的颜色、大小。
（5）种子图像、检验结果可保存或导出到数据库，并形成WORD报告，满足日常搜索、管理的需要；可存储种子图像及全部统计结果，免除了繁琐的记录工作，避免错误。
（6）提供条码输入接口，插上条码枪即可输入条码。保证卓越性能前提下，不仅提供zei优秀产品，还提供zei优解决方案，让您满意。

万深SC-E型种子大米外观品质检测分析仪技术参数
1.快速形态分析：40秒内自动精准分析测出每粒种子的各面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径（长度测量误差≤±0.1mm，长宽比测量误差≤±0.05，重现性误差≤±0.02mm），自动获得每粒种子的外观形状参数，以及千粒重、大米整精米粒数、整精米率（35g样本的测量误差≤±1.0%，重现性误差≤±0.25%）、垩白度、垩白粒率（35g样本的测量误差≤±1.0，重现性误差≤±0.5）、大米透明度（35g样本的测量误差≤±5.0%，重现性误差≤±0.5%）、碎米率、不完善粒（黄粒米、未成熟粒、杂质）。可自动分割粘连种子、自动剔除微小杂质和错误目标，可选择区域统计。还可分析大米的碾米精度，以及裂纹率。稻种等的考种计数正确率，经极快速地可视化验证后，可达100%正确。
2.具有对被分析目标颜色、形状进行自动学习，并实现自动分类的特性。可任意组合的批操作向导，实现一键自动完成计数与各项分析，并实现鼠标增减统计、区域选择统计、辅助裁剪修正、种子粘连分割、输入重量后自动换算得千粒重 等；可裁剪或擦除掉污染目标区，删除任意区域内的误选种子。可合并误分割，以及对自动识别后的黄米粒和其它目标做类别转换修正。
3．具有样本条码、电子天平RS232重量数据的自动输入接口，电脑插上条码枪即可刷入样本编号；在电子天平加上被测样本，一旦稳定即出重量数据和千粒重数据，不需按天平的打印键。能折算掉混入的秕谷重量，自动算出实粒千粒重。能自动测出参数比较特别玉米穗长、穗粗、秃尖长、左右穗缘角、穗行角，平均行粒数、粒厚、粒数、粒形，截面穗行数、穗粗、轴粗，以及截面上的平均粒长、平均粒宽等参数。还可分析叶片经脉密度。
4．测量功能：
尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；
长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量；
可以单独进行目标的长度测量。
5．数据存储：图像可保存（可保留原图/结果图）；自动形成总报表，统计分析结果能输出至Excel表；
6．仪器规格与配置：
大米分析专配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800真彩双光源扫描仪（电脑另配）；
或对各类种子分析选配光学分辨率4800×9600、Epson V33 Photo真彩扫描仪、带RS232接口的电子天平（电脑另配）。或选配超大幅面的A3扫描仪来成像。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途