Kore SurfaceSeer S 是一种经济实惠的紧凑型的飞行时间二次离子质谱系统，用于快速表面化学表征。该仪器 是研究样品表面化学成分的理想仪器，在研发或工业质量控制应用中同样适用。

Kore SurfaceSeer S在TOF-SIMS （飞行时间二次离子质谱仪） 系列中，是一款高性价比且经久耐用 的产品。它是研究样品表面化学成 分的理想选择，适用于研发和工业 质量控制应用。

TOF-SIMS（飞行时间二次离子质谱仪）主要通过离子源发射离子束溅射样品表面进行分析。离子束作为一次离子源，经过一次离子光学系统的聚焦和传输，到达样品表面。样品表面经过溅射，产生二次离子，系统将产生的二次离子提取和聚焦，并将二次离子送入离子飞行系统。在离子飞行系统中，不同种类的二次离子由于质荷比不同，飞行速度也不同，在飞行系统分离，通过检测这些离子进行相关分析。

Kore SurfaceSeer S使用的是5keV Cs+离子束（可选惰 性气体Ar+），该离子束是脉冲式的，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。 在每100µs TOF 循环中，该离子枪的脉冲时间仅为60ns，因此，主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。 要达到所谓的“静态SIMS”极限，需要在一个点上进行几分钟的分析，在这个点上，表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光 束电流)。尽管离子剂量较低，这款TOF分析仪还是非常高效的，这就说明了它具有较高的二次离子数据速率（即使在离子产率相对较低 的聚合物上，也通常为5000 c/s）。

SurfaceSeer S 仪器特点：

• 配备5keV Ar+/Cs+脉冲式离子束，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤，实现样品“无损”分析；
  

• 针对工业领域的低成本TOF-SIMS仪器；

• 均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析 ；

• 可在1~2min内实现高速率的正负质谱分析；

• 质量分辨率可达 >2,500 m/δm (FWHM)；

• 适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析。

SurfaceSeer S 应用领域:

• 表面化学

• 黏附力

• 分层

• 印刷适性

• 表面改性

• 等离子体处理

• 痕量分析（表面ppm）

• 催化剂

• 同位素分析

• 表面污染

  
  

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途。