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高德英特（北京）科技有限公司
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | PHI nanoTOF II |
| 品牌： | 爱发科 | 产地： | 日本 |
| 关注度： | 150 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 仪器种类 | 飞行时间 | 价格范围 | 500万-1000万 |
| 质量分辨率 | 低质量时质量分辨率：m/z = 28 (Si+)和29 (SiH+) 的m/∆m ≥ 12,000 | 质量分析范围 | 高质量时质量分辨率：m/z > 200的m/∆m ≥ 16,000 质量范围：1～12000 amu以上; 离子束能量范围：15 ~ 30 keV； |
| 原始束流或速能量 | Bi初级离子源≥ 20 nA |
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PHI nanoTOF II飞行时间质谱仪™
TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析技术，可检测表面分子成分和分布，元素及其同位素。所有元素和同位素，包括氢都可以用飞行时间二次离子质谱分析。由初级脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子，经飞行时间分析器分析二次离子的荷质比，从而得知样品表面信息。
PHI nanoTOF IITM是第五代SIMS仪器，该仪器具有独特的专利飞行时间（TOF）分析仪，它拥有市场上TOF-SIMS仪器中最大的角度和能量接收范围，它使用了具有优良离子传输能力的三级聚焦半球形静电分析器，实现了高空间分辨率和质量分辨率。PHI nanoTOF IITM还具有很高的成像能力，可以表征形貌复杂的样品而没有阴影效应。
特点：立体收集角度大和深景深 二次离子以不同的初始能量和角度 从样品表面飞出,因此,即使是质量 完全相同的离子,在分析仪内的飞行 时间也会产生差异,飞行时间差是导 致质量分辨率变差的原因之一。 NanoTOFⅡ采用的是三重聚焦静电分 析仪（TRIFT型）,可以同时矫正由初 始能量和发射角的差异而发生的飞行 时间差异而发生的飞行时间差。 TRIFT型分析仪的最大的优势,就是同时实现了高质量分辨率和高检测灵敏度，并且成像没有阴影。 |
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图2(a)不同飞出角度的二次离子飞行轨迹示意图 | 2(b) 断裂陶瓷截面示意图及二次离子分布图 |
同时实现高空间及高能量分辨模式：nanoTOF Ⅱ安装了新开发的离子枪（对应的源为Bi，Au，Ga），空间分辨率最小能达到70纳米（Bi3++）。此外，在新设计的脉冲压缩（Bunched）机理下，可采用高质量分辨率模式，实现500纳米或以下（Bi3++）的空间分辨率，其增加了三倍以上的电流密度，同时提高了灵敏度，空间分辨率和质量分辨率。
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图-3 b）旧型号仪器像 | 图-3 c）nanoTOF II成像 | |
视野范围最小可至5微米：下图显示的是在较高的空间分辨率下，PS/PMMA聚合物的成像。传统上来说，聚合物的分子分布结构，只能用AFM观察，但在这里，nanoTOF II也能做到。
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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
