400-6699-117转8899
咨询列表
赛默飞电子显微镜（原FEI）
您好，欢迎您查看分析测试百科网，请问有什么帮助您的？
分析测试百科网 认证会员，请放心拨打！
诚信认证:
工商注册信息已核实！
扫一扫即可访问手机版展台
| 参考报价： | 面议 | 型号： | Helios 5 EXL |
| 品牌： | 赛默飞 | 产地： | 捷克 |
| 关注度： | 1433 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 |
400-6699-117转8899
对高性能、高能效电子产品的需求正在推动具有更小、更密集的功能和复杂的3D结构的先进设备的发展。这些尖端微处理器、存储器件和其他产品的产能生产极具挑战性，需要对深埋在器件内部的特征进行高分辨率、原子级分析。透射电子显微镜（TEM）正日益成为这种分析的首选技术，并依赖于通过聚焦离子束（FIB）铣削生产的高质量样品。
赛默飞世尔科技Helios 5 EXL DualBeam是一款300mm全晶圆聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM），旨在解决半导体行业中的TEM样品制备挑战。Helios 5 EXL DualBeam能够为当今最先进的工艺节点制备样品，包括亚5nm和门全方位技术。
| 描述 | 300mm全晶圆聚焦离子束扫描电子显微镜 |
| 类型 | FIB-SEM |
| 分辨率 | 1.0 nm @ 15 kV；0.9 nm @ 1 千伏 |
| 单位面积 | each |
Helios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜信息由赛默飞电子显微镜（原FEI）为您提供，如您想了解更多关于Helios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
