400-6699-117转1000
咨询列表
北京优纳珂科技有限公司
您好，欢迎您查看分析测试百科网，请问有什么帮助您的？
| 参考报价： | 面议 | 型号： | EIGER2 X/XE CdTe |
| 品牌： | DECTRIS | 产地： | 瑞士 |
| 关注度： | 222 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 |
400-6699-117转1000
瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器EIGER2 X/XE CdTe产品详情：
1、产品特点：
第四代同步加速器的尖端技术：
EIGER2 X/XE CdTe探测器是为在高能量段需要高分辨率和高帧速率的科学家设计的。单个像素尺寸仅为75µm，且对能量到达100keV的光子仍有很高的量子效率。由于死时间为零，所以每帧之间不会丢失光子。两个可调的能量阈值可以同时区分荧光背景（低能阈值）并且测量高次谐波的影响（高能阈值）。最大计数速率高达107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探测器性能优异且易于集成和操作。
2、核心优势：
– 高量子效率范围达100KeV
– 无图像延迟或余辉
– 最大计数速率高达107光子/秒/像素
– 双能量阈值
– 电子门控触发
– 有效面积大
3、应用领域：
– x射线衍射(单晶和粉末)
– 现场和原位技术
– 衍射显微镜和层析成像
– 漫散射和对分布函数
技术参数：
型号 | EIGER2 X CdTe 500K | EIGER2 X CdTe 1M | EIGER2 X CdTe 4M | EIGER2 X CdTe 9M | EIGER2 X CdTe 16M | EIGER2 XE CdTe 9M | EIGER2 XE CdTe 16M |
有效面积：宽x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 X 79.7 | 155.1 x 162.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||||
总像素数量 | 1028x512 | 1028x1062 | 2068 x 2162 | 3108 x 3262 | 4148 x 4362 | 3108 x 3262 | 4148 x 4362 |
间隙宽度, 水平/垂直（像素） | -/- | -/38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 |
最大帧频* [Hz] | 2000 | 2000 | 500 | 230 | 130 | 550 | 550 |
计数器深度 [ bit ] | 32 | 32 | 32 | 32 | 32 | 32 | 32 |
读出时间 | 连续读数 | ||||||
点扩散函数 | 1 pixel | ||||||
传感器材料 | CdTe | ||||||
传感器厚度 [μm] | 750 | ||||||
能量范围 [keV] | 8-100 | ||||||
最大计数率 [ph/s/pixel] | 107 | ||||||
尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 50 瑞士DECTRISX射线探测装置 EIGER2 X/XE CdTe配件栏信息由北京优纳珂科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于瑞士DECTRISX射线探测装置 EIGER2 X/XE CdTe配件栏报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。 注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途 | |||
