DECTRISX射线探测EIGER2 X/XE DECTRIS

产品详情：
1、产品特点：
DECTRISEIGER2X/XE光子计数X射线探测器融合了混合像素技术的最新发展成果，呈现出卓越的探测性能。它具有高达2000Hz的帧率、低于100ns的死区时间和单像素点扩散函数，可实现在线站上极为准确的数据采集。
新型的DECTRISEIGE2RX/XE系列探测器具有卓越的连续读数能力和千赫兹的帧速率，可为极为严苛的同步辐射应用提供极致的探测性能。它还提供了一种全新的成像手段，使得像ptychography类的慢速扫描成像技术成为可能。
2、核心优势：
- 混合成像计数模式：单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力
- 千赫帧速率占空比>99%
- 75μm像素尺寸的高空间分辨率
- 优秀的点扩散函数
- 无读出噪声和暗电流
- 极其紧凑的外壳
3、应用领域：
- X射线光子相关光谱（XPCS）
- Ptychography（叠层衍射）成像技术
- 时间分辨实验
- 大分子晶体学（MX）
- 单晶衍射（SCD）
- 粉末衍射（PD）
- 表面衍射
- 小广角/X光散射（粉煤灰/蜡）
- X射线成像型号EIGER2X 500K
EIGER2X 1M
EIGER2X 4M
EIGER2X 9M
EIGER2XE 9M
EIGER2XE 16M
有效面积：宽x高[mm2]
77.1 x 38.4
77.1 x 79.7
155.1 x 162.2
233.1 x 244.7
311.1 x 327.2
233.1 x 244.7
311.1 x 327.2
像素大小[μm2]
75 x 75
总像素数量1028 x 512
1028 x 1062
2068 x 2162
3108 x 3262
4148 x 4362
3108 x 3262
4148 x 4362
......（其余内容省略）

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