EIGER2 R CdTe DECTRISDECTRISX射线探测

产品详情：
1、产品特点：
      EIGER2RCdTe X射线探测器集成了混合像素光子计数探测器的新发展和碲化镉感光器件的高量子效率。针对使用高能量X射线源或需要双阈值设置的情况，EIGER2RCdTe是最佳选择。DECTRIS公司的即时触发技术赋予其高计数率能力，可以更准确地测量实验室X射线源达到的高强度。EIGER2RCdTe探测器拥有两个能量阈值，因此在环境背景下具有更低的暗电流和背景噪音，显著提升了信噪比，使其在更短的测量时间内获得更好的数据质量。单光子计数与计数器连续读/写技术相结合克服了传统积分探测器容易饱和以及动态范围有限的问题。此外，感光像素直接将X射线转化为电信号，搭配75μm的小像素尺寸，使得探测器具备高的空间和角度分辨率。
2、核心优势：
      – 针对高能射线有高的量子效率、更短的测试时间和更高质量的数据
    –即时触发技术使得计数率大幅度提高
    –双能阈值，可用于低背景和高背景的抑制
    – 无读出噪音和暗电流，确保了最佳的信噪比
    – 计数器具有同时读/写功能，确保了高动态范围和无饱和的图像
3、应用领域：
    -大分子晶体学（MX）；
    -化学结晶学；
    -小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）；
        -μCT；
        -高压晶体学；
技术参数：
型号EIGER2RCdTe 500K
型号EIGER2RCdTe 1M
型号EIGER2RCdTe 4M
型号EIGER2RCdTe 2M-W
型号EIGER2XECdTe 1M-W
有效面积：宽x高[mm2]
77.1 X38.4
77.1 x79.7
155.1 x162.2
311.1 x38.4
155.1 x38.4
像素大小[μm2]
75x75
总像素数量
1028x512
1028 x1062
2068 x2162
4148 x5122
2068 x512
最大帧频*[Hz]
100
100
2050
100
计数器深度[bit]
32323232
读出时间连续读数点扩散函数1pixel
传感器材料CdTe
传感器厚度[μm]750
能量范围[keV]
8-25(8-100,withoptionalextendedenergyrangecalibration)
计数率[ph/s/pixel]
5.5 x106
尺寸（WHD）[mm3]
114x133x242
235x237x372
340x370x500
400x430x500
340x370x500
重量[kg]
3.7
4.7
15.9
5.8
冷却方式
水冷（模块）/风冷（电子学）
水冷（模块）/风冷（电子学）
水冷（模块）/风冷（电子学）
水冷（模块）/风冷（电子学）
水冷（模块）/风冷（电子学）

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途