武汉精测电子集团股份有限公司
contact
17180192385 虚拟号将在180秒后失效,请在有效期内拨打
若未完成电话咨询，您可提交留言咨询，厂商主动联系您

点击提交代表您同意《用户服务协议》 和 《隐私政策》

您好，欢迎访问分析测试百科网！
关于我们
公司简介 联系方式 组织荣誉 成功案例 仪器设备 行业应用 促销专场
搜本店铺
搜全站
武汉精测电子集团股份有限公司
非会员
主营： SOC测试机 存储测试机 其他半导体专用仪器设备
400-6699-117转1000
分析测试百科网认证会员，请放心拨打！
当前位置： 武汉精测电子集团股份有限公司 其他半导体专用仪器设备
‌精测电子‌
店内热销
存储器最终测试自动测试设备
存储器最终测试自动测试设备
面议
显示驱动芯片晶圆探测自动测试设备
显示驱动芯片晶圆探测自动测试设备
面议
存储器晶圆探测自动测试设备
存储器晶圆探测自动测试设备
面议
集成老化测试系统
集成老化测试系统
面议
通用低速老化测试系统
通用低速老化测试系统
面议
存储器高速老化测试系统
存储器高速老化测试系统
面议
高速老化测试系统
高速老化测试系统
面议
全部 仪器 新品 品牌
高速老化测试系统
高速老化测试系统
品牌：‌精测电子‌ 型号：DRAM 产地：武汉

最大支持60个老化单板并行测试，测试速度最高达到100Mhz/200Mbps，同时支持RDBI(Repair During Burn In)功能，有效提升良率和效率。

参考价格：面议
在线咨询 留言咨询
first page preview page 1 共1页 跳转到
确定
next page last page