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一韦仪器G900S漫反射测定仪，采用双光束光学系统，支持190-900nm波长范围，带宽0.1-5nm可调，适用于固体、粉末样品的高精度漫反射分析，广泛应用于材料、纳米、化工等领域，性能稳定，数据可靠。
一韦仪器G900漫反射测定仪，专为分析固体、粉末样品设计，采用双光束系统与光电倍增管，波长范围190-900nm，实现快速、非破坏性的高精度漫反射分析，是材料研发与质量控制的理想工具。
