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固体样品-中红外ATR
发布时间：
2023-10-30 16:31
来源：
荧飒光学仪器（上海）有限公司
| 领域： | 高分子材料 | ||
| 样品： | 固体表面、粉末、薄膜、聚合物、沥青、胶状物、油漆 | 项目： | 难以测量的样品、非破坏测量。 |
测量原理：
干涉后的红外光以全反射的角度(例如45度)入射ATR晶体，红外光在晶体表面形成一个衰减式的红外波，被紧密覆盖在晶体表面的样品吸收后，检测器采集反射部分的红外光的强度，这种测量方式称为衰减全反射测量，即ATR测量。
中红外ATR通常选择的晶体材料有金刚石(Diamond)、硒化锌(ZnSe)、锗晶体(Ge)、硅晶体(Si)等，因此测量范围因材料选择而有所不同。
ATR满足不同的应用场景，荧飒光学可以提供单次测量或多次测量附件。
