【简单介绍】

Surfix basic S可换探头统计型测厚仪 膜厚仪根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm

【详细说明】

Surfix basic S可换探头统计型测厚仪膜厚仪

特点：

1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层

2.分辨率0.1μm

3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm

4.探头需另选购

Surfix basic S可换探头统计型测厚仪膜厚仪

特点：

1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层

2.分辨率0.1μm

3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm

4.探头需另选购

Surfix basic S可换探头统计型测厚仪膜厚仪

特点：

1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层

2.分辨率0.1μm

3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm

4.探头需另选购

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途