无损检测 | 快速太赫兹时域光谱系统在涂层厚度管理方面的应用

本系统可用于对不同涂层厚度进行检测，包括涂层厚度、层间厚度、涂层材料成分、内部缺陷、层间均匀性、脱层等的太赫兹无损检测。主要特点有：太赫兹波的光子能量很低（比x光低100万倍，比可见光低几千倍），不会损伤被检测样品；能够有效穿透涂层与复合材料，实现对样品涂层厚度和样品内部的检测；太赫兹波脉冲很短（1ps左右），通过脉冲时间采集，能够精确获得涂层厚度变化、涂层材料成分、脱层等厚度信息。快速太赫兹时域光谱系统系统采用飞行时间测量法，图像的纵向分辨率可达十几微米，在涂层厚度测量方面有着广泛的应用。

“工业4.0”和“中国制造2025”给无损检测技术带来了新的发展机遇，为了实现工业装备的智能化、高质量制造和高可靠性应用，需要研究发展专用精量化、标准化、自动化、自主化和智能化的无损检测技术与设备。