涂镀层测厚仪8500马尔

产品简介：
Qnix8500涂层测厚仪（无线探头）是德国*新推出的全球一款探头可以与主机无线传输的产品。在测量时，主机和探头能够实现无线通讯，这样在实际应用中，操作将变得更加便捷，大大提高测量效率。此外，由于探头尺寸较小，因此能够满足一些狭缝，细管内部，型腔等空间较小部位的测量需求，在实际应用中具有更多的现实意义。
特点：无需校准，只需调零即可，测量精度高，具有一体分体通用的特点，可以配合多种探头使用，支持中英文菜单操作，具有智能化功能，并且具备存储功能，可以连通计算机对数据进行处理分析。同时，可以连接薄镀层探头，用于对极薄的镀层厚度进行测量。
可选探头：Fe铁基探头：0－2000μm、0－5000μm；NFe非铁基探头：0－2000μm、0－5000μm；NFe/Fe两用探头：0－2000μm、0－5000μm；无线传输探头；薄镀层探头。
Qnix8500获得多项国际和质量认证，包括DIN50981，50984，ISO2178，2360，2808，BS5411（3，11），3900（c，5），ASTMB499，D1400。
Qnix8500主机基体：Fe、NFe、FeNFe；探头形式：一体、分体；显示：LCD液晶显示；测量范围：0－2000μm、0－5000μm；测量精度：0－2000μm：≤±2％，2000－5000μm：≤±3％；zui小基体：Fe：10mm×10mm，NFe：6mm×6mm；zui薄基体：Fe：0.2mm，NFe：0.05mm；zui小曲率：凸半径：5mm，凹半径：30mm；存储功能：100个读数，1个数据组；统计功能：平均值，*大值，*小值，标准偏差。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途