德思特MTEK系列，传统测试系统的测试仪升级解决方案

MTEK系列传统测试系统升级解决方案

• 传统半导体测试系统的升级版

• 基于PXI的，高性价比的开放式架构及解决方案

• 兼容传统测试平台，包括Teradyne，LTX / Credence和Verigy

• 轻松添加性能：RF测试，数字测试和模拟测试

概述

MTEK（Marvin Test Expansion Kit  Marvin测试扩展套件）系列是一个高性价比，PXI总线的测试解决方案，提供先进规格的现代化仪器，延长了传统ATE的使用寿命和功能。基于Marvin测试解决方案的PXI机箱和仪器系列产品，MTEK系列可以轻松地与传统的ATE平台集成，提供先进的数字，模拟或RF测试功能。基于PXI的开放架构，MTEK系统提供了灵活和可扩展的解决方案，可以专门配置为解决封装和晶圆测试应用的一系列测试需求。旨在支持工程和大批量生产设备，MTEK系列是延长传统半导体ATE系统寿命周期的理想的低成本解决方案。

软件

MTEK系统配有Windows®兼容的仪器驱动程序和虚拟仪表板，可从显示仪器当前设置和状态的窗口提供仪器的交互式控制和监控。此外，数字仪器还提供图形矢量开发/波形显示工具，作为选项，文件导入工具可用于导入和转换STIL，WGL，VCD，eVCD和ATP文件格式。

特征

MTEK系列核心平台包括9槽PXI Express机箱和MXI接口，为主机ATE系统提供控制接口。

8个外设插槽可用于支持PXI和PXI Express仪器。可用的PXI仪器提供模拟和数字功能，包括：

• 6.5位数字万用表（DMM）

• 高性能数字I/O与每个引脚的PMU

• 20MS/s采样率AWG（任意波形发生器）

• 70 MS/s采样率数字化仪

• 射频信号发生器和分析仪

MTEK的紧凑型外形简化了与旧式测试系统的机械集成，用户可以选择通过DUT的负载板或测试仪的接收器接口来连接MTEK的资源。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途