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解决方案|ICP-OES法测定半导体芯片清洗液中重金属
发布时间：
2021-12-03 13:49
来源：
北京东西分析仪器有限公司
| 领域： | 电子/电器/半导体 | ||
| 样品： | 清洗液 | 项目： | 重金属 |
| 方案文件名 | 下载 |
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解决方案|ICP-OES法测定半导体芯片清洗液中重金属 |
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。随着通信技术的快速发展，半导体芯片清洗液的关注度及可靠性引起了越来越多的关注。本文采用Quantima电感耦合等离子发射光谱仪建立了清洗液中的相关金属元素检测解决方案，供相关人员参考。
