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JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型电子显微镜
参考报价: 面议 型号: JEM-ARM300F2
品牌: 日本电子 产地: 日本
关注度: 21 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
供应商性质一般经销商产地类别进口
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发布时间:2023年04月

JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代产品,该设备在性能上有了进一步的提高,无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。

主要特点

1. FHP2 新型物镜极靴

保证超高空间分辨率观察的同时,优化FHP物镜极靴的形状以满足大尺寸双SDDs(158mm2)的需求,x射线有效检测效率提高了两倍以上,实现亚埃级分辨率的EDS元素面分析。

2. 新型屏蔽体

TEM柱采用箱式外壳,可减少温度、气流、噪声等环境变化的影响,从而提高显微镜的稳定性。


3. ETA 校正器 & JEOL COSMO™

    快速准确的像差校正


4. 稳定性提高

CFEG采用小型SIP泵,快速提高真空度,提高了发射体附近的真空、发射电流、探针电流的稳定性。其他改进也提高了显微镜的稳定性和对各种干扰的抵抗力。


JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型电子显微镜信息由广州文明机电有限公司为您提供,如您想了解更多关于JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型电子显微镜报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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